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涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理及分類

更新時(shí)間:2010-12-01      點(diǎn)擊次數(shù):3501

對(duì)材料表面起保護(hù),裝飾作用的覆蓋層,如涂層,鍍層,敷層,貼層,化學(xué)生成膜等,在一些國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。  

    覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確要求。 
    覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。 
    X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
    隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測(cè)厚儀器。 
    采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
 
一. 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀
 
    *磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用zui廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。
 
這種儀器的特點(diǎn)是操作簡便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。 
二. 磁感應(yīng)測(cè)量原理 
    采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)磁感應(yīng)測(cè)厚儀_電渦流測(cè)量原理_磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀_電渦流原理的測(cè)厚儀到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。
 
    磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。 
三. 電渦流測(cè)量原理 
    高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
 
采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適.
四、塑膠產(chǎn)品上涂層厚度的測(cè)量問題
1.用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層時(shí)的注意事項(xiàng)
   對(duì)塑膠產(chǎn)品上涂層的測(cè)量。如使用超聲波發(fā)測(cè)量時(shí),經(jīng)常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒有較好的聲波反射面,從而導(dǎo)致測(cè)量失敗或讀值嚴(yán)重偏差。如使用切鍥法,也多有使用不方便和讀數(shù)困難的地方。
      所以目前便攜式電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠普遍使用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層。
      我們經(jīng)過多年實(shí)踐,推薦先在產(chǎn)品上蓋若干小條標(biāo)準(zhǔn)厚度的聚酯薄膜(50微米左右,我公司有專門定制供應(yīng)),再用紙基美紋膠帶壓住兩頭,留出中間部分。將該產(chǎn)品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。
      產(chǎn)品完工后,取下留有漆膜的聚酯薄膜,用鐵零板(或鋁零板)做基板用磁感應(yīng)(或電渦流法)膜厚儀分別測(cè)量有涂層的部分和無涂層的部分,兩者之差就是涂層厚度。由于采用同一塊零板,所以電磁感應(yīng)參考點(diǎn)不會(huì)發(fā)生變化,從而保證了測(cè)量基準(zhǔn)不變,保證了測(cè)量的準(zhǔn)確。另外,特別是因采用了差別法,所以儀器和零板的誤差都會(huì)因相減而抵消。這樣就大大降低了對(duì)零板和儀器精度的要求。  
  
也有部分工廠仍采用粘貼鐵片和鋁片的方法,需要注意的是每塊鐵片或鋁片表面粗糙度不同、凸凹變形、厚薄變化等會(huì)造成電磁感應(yīng)參考點(diǎn)發(fā)生變化,這樣可能會(huì)造成測(cè)量誤差加大和重復(fù)性較差。需要注意避免。
2.涂層厚度測(cè)量的其他問題
a. 涂層烘烤固化后,還有一個(gè)繼續(xù)固化的緩慢過程,因條件限制, 工廠一般取下產(chǎn)品后就會(huì)測(cè)量。如過一兩天后再測(cè),往往厚度會(huì)少1~3微米。
b. 至于切片法測(cè)厚,制備切片則非常重要。由于基材和涂層都較軟,切割變形可能造成涂層向基材方向或基材向涂層方向擠壓侵占,從而造成讀數(shù)偏大或偏小。
   另外油漆噴涂過程是液態(tài)點(diǎn)狀濺射至基材后,經(jīng)流平、交聯(lián)、成膜固化。斷面一定是表面有起伏狀態(tài),外觀上看則呈現(xiàn)出桔皮現(xiàn)象。轉(zhuǎn)移法測(cè)厚是在平面上隨機(jī)取點(diǎn),或再取平均數(shù),切片法是在切割處的一條直線斷面上顯微目視讀數(shù)。兩者因取點(diǎn)方法不同、位置不同,兩者讀數(shù)會(huì)有不同。但兩者有互相參考價(jià)值,可分析對(duì)比找出原因。
 
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