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測厚儀對試樣覆層厚度進行測試期間須符合條件主要包括這些地方

更新時間:2021-08-13      點擊次數:897

對材料表面保護、裝飾形成的籠蓋層,如涂層鍍層、敷層、貼層、化學天生膜等,在有關guó jiā和國際尺度中稱為覆層 覆層厚度丈量已成為加工產業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量尺度的手法。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的丈量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差丈量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些方法中前五種是有損檢測,丈量手段繁瑣,速度慢,多合用于抽樣檢修,而本公司生產經營的TM-8819-T6T系列多模式超聲波測厚儀、CM-8825系列涂層測厚儀很好的解決了這方面缺陷。

涂層測厚儀

X射線和β射線法是無接觸無損丈量,但裝置復雜昂貴,丈量范圍較小。因有放射源,使用者必需遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層丈量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。 跟著技術的日益提高,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。丈量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的進步。它合用范圍廣,量程寬、操縱簡便且價廉,是產業和科研使用較廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行丈量原理與儀器 。


電渦流測厚儀丈量原理 :

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間間隔的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。因為這類測頭專門丈量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測厚儀測頭。非磁性測厚儀測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,答應誤差1%,量程10mm的高水平。

采用電渦流測厚儀原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可丈量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可丈量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。固然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務仍是采用磁性原理丈量較為合適。

渦流測厚儀

廣州蘭泰儀器有限公司是一個集科研、開發、生產、銷售、外貿及服務為一體的經營機構。主要產品有:振動儀,數字邵氏橡膠硬度計,涂層測厚儀,超聲測厚儀,轉速表,聲級器,水份儀,里氏硬度計,粗糙度度儀等等。




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