欧美裸体XXXX极品少妇,高潮太激动抽搐两眼翻白,精产国品一二三产区区别,东京热无码AV一区二区

您好!歡迎訪問廣州蘭泰儀器有限公司網站!
全國服務咨詢熱線:

13794373895

當前位置:首頁 > 技術文章 > 膜厚儀電渦流測量原理

膜厚儀電渦流測量原理

更新時間:2013-01-31      點擊次數:1872
膜厚儀電渦流測量原理:
    高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。   
    采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。
廣州蘭泰儀器有限公司
地址:廣州市荔灣區海北裕海路265號B棟3樓
郵箱:282153509@qq.com
傳真:86-020-81509478
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息:
歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息